用于合金和金屬檢測(cè)的合金分析儀可為用戶提供極為精細(xì)的材料化學(xué)成份信息，從而可以迅速地辨別合金的牌號(hào)和純金屬。從簡單的分揀到富于挑戰(zhàn)性的牌號(hào)區(qū)分，從來料檢測(cè)到產(chǎn)品的校驗(yàn)，會(huì)在數(shù)秒內(nèi)得到合金的化學(xué)成份信息及牌號(hào)ID。該產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、合金鑒別、材料分類、安全防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用情景中，合金號(hào)鑒別、金屬成分快速分析，解決工業(yè)化基礎(chǔ)的原材料分析難題。

　　合金分析儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素， 同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測(cè)量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。

　　每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子運(yùn)行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子數(shù)量。

　　從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個(gè)原子數(shù)都對(duì)應(yīng)固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。

　　能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了里層三個(gè)電子軌道即K，L，M上的活動(dòng)情況，其中K軌道接近核子，每個(gè)電子軌道則對(duì)應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層。

　　在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。

　　由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會(huì)釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過程則稱為螢光輻射。

　　以上就算小編今天為大家?guī)Ю驳娜績?nèi)容了，希望能夠?qū)δ兴鶐椭?/div>